| 过程检验

1）采用原子力显微镜（AFM）对电抛后的基带、隔离层的表面粗糙度进行检验。

2）采用X射线衍射仪对涂层的物相、结晶情况及薄膜面内面外织构度、薄膜应力情况等进行测定，以保证生产中各层薄膜质量符合制备工艺要求。

3）采用扫描电子显微镜（SEM）对各涂层的表面形貌和分切切口进行观察。

4）采用探针式轮廓仪对各涂层的厚度进行检测。

从左至右分别为AFM、XRD、SEM、探针式轮廓仪

| 出厂检验

1）采用MCorder高温超导带材临界电流均匀性测试系统对超导长带的电流均匀性进行测定。

2）采用PPMS综合物性测量系统对长带端样进行低温高场性能测试，4.2K 0-6T（全检）4.2K 0-12T（抽检）。

3）分别用倒带机、千分尺、游标卡尺对带材的几何尺寸（长度、厚度、宽度）进行测量。

MCorder高温超导带材临界电流均匀性测试系统